推力試驗探針DMS-I20

20N推力試驗探針DMS-I20  

1N推力試驗探針DMS-I21

產品概述：

本套探針分別符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。

技術參數

20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3+0.03  0×1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;

1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力  

使用方法

將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。

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德邁盛測控設備有限公司坐落于深圳南山高新技術產業園，是一家集科研、制造、咨詢服務為一體儀器制造企業，專業研

制生產符合 IEC、UL、GB 等非標準的試驗設備。同時承接專業檢測機構、產品生產廠家的實驗室系統集成工程。

推力試驗探針DMS-I20

    邁盛測控設備有限公司坐落于深圳南山高新技術產業園，是一家集科研、制造、咨詢服務為一體儀器制造企業，專業研制生產符合IEC、UL、GB等非標準的試驗設備。同時承接專業檢測機構、產品生產廠家的實驗室系統集成工程。